EMC高頻測試桌

     不同材質(zhì)的試驗桌產(chǎn)生最大差異的頻率相同，均在 700~900 MHz 之間。   
     由歸一化場衰減的計算公式可以得出：
     V_R = V_T - AF_T - AF_R - ΔAF_TOT - A_N

     因泡沫的介電常數(shù)接近空氣，比木頭小，所以暗室使用泡沫桌時測得的場地衰減數(shù)據(jù)與無測試桌相似；而當暗室使用木桌時，測得的場地衰減數(shù)據(jù)與無測試桌時的數(shù)據(jù)存在較大差異。因木桌較大的介電常數(shù)使圖 5 中使用木桌的暗室場地衰減 A_N 偏大， 在AF_T、AF_R、ΔAF_TOT 不變的情況下接收機測得的最大測量電平值 V_R 將減小。
     所以，當電波暗室使用木桌或其他較大介電常數(shù)材質(zhì)制作的試驗桌等輔助設(shè)施時，會使場地衰減AN 增大而導(dǎo)致接收機測得的電場強度減小，使測試結(jié)果造成差異。試驗桌等輔助設(shè)備是試驗場地有效性中不可分割的一部分，因此建議，在選擇暗室輔助設(shè)施時選擇介電常數(shù)小的材質(zhì)，并進行場地衰減的測量比較，以保障各暗室測量結(jié)果的一致性。